产品展示|激光微加工系统_光学成像系统_激光器件_原子力显微镜

高功率光纤激光放大器 FPALP-S-CB
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这款高功率光纤激光放大器采用掺Yb微结构光纤技术和全固态激光设计,结构紧凑而具有良*的激光稳定性,适合搭建光纤激光放大实验。
热激光激发显微镜 FPALP-TLS
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热激光激发显微镜采用Thermal Laser Stimulation - TLS技术,配备高清光学显微镜和高功率激光器,高精度聚焦定位集成电路板元器件进行失效分析。热激光激发显微镜TLS的激光束可局部加热元器件,读取晶体管电流消耗数据，评估电子元器件失效与否。
光子辐射显微镜 FPALP-Photoemission
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光子辐射显微镜是为集成电路失效分析设计的Photoemission光子辐射定位系统,,可采集集成电路背部发射的红外光子,观察分析半导体的光子辐射,进而对半导体集成电路失效分析测试。
激光故障注入系统 FPALP-S-LMS
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激光故障注入系统是为集成电路安全性评估设计的高精度laser fault injection系统和激光故障注入显微镜,方便对集成电路进行激光故障注入测试分析。
中红外可调谐飞秒激光器 FPALP-MIR-PULS
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这款中红外可调谐飞秒激光器采用全固态飞秒光纤激光器技术,提供1800nm~2100nm调谐波长范围，脉宽可小于300飞秒，适合生物光子成像,光遗传学,超快光谱,掺铥和掺钬激光种子注入应用。
Ti:Sapphire激光振荡器-800nm-40fs FPALP-Ti-puls
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这款Ti:Sapphire激光振荡器采用全保偏光纤倍频飞秒激光锁模振荡器技术,专业为钛宝石Ti:S激光放大器种子注入和泵浦设计,提供800nm波长，脉宽可小于40飞秒，适合多种飞秒激光应用。
光纤飞秒激光器-1560nm-100fs FPALP-Er-PULS-fs
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这款光纤飞秒激光器采用新型全固态激光技术,基于全保偏光纤倍频飞秒激光锁模振荡器技术,提供1560nm波长，脉宽可小于100飞秒，适合多种飞秒激光应用。
高分辨率背照式sCMOS相机 FPPHO-KINETIX
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这款高分辨率背照式sCMOS相机是高速大视场FOV高分辨率高灵敏度sCMOS相机，量子效率高达95%, 非常适合各种弱光微光成像应用。
自适应光学高速EMCCD相机 FPNUV-HNU-240
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这款自适应光学高速EMCCD相机是一款为自适应光学成像设计的高速电子倍增CCD相机，具有高达3000fps的高速采样成像速率和极低的噪音,不会产生大气失真，非常适合焦平面波前探测和直接外行星成像。
高速EMCCD相机 FPNUV-hnu-512
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这款高速EMCCD相机是一款具有较高成像采样速度的多用途高速电子倍增CCD相机，具有光子计数级别的超高灵敏度,满足太空和天文观测,生命科学,物理学等微光成像应用。这款高速EMCCD相机具有高端电子倍增EMCCD相机的性能：几乎没有噪音并具有单光子计数级别的灵敏度,具有较快的成像速度和卓越的图像质量,适合低通量成像和微光成像。
大视场EMCCD相机 FPNUV-HNU-1024
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大视场EMCCD相机是一款多用途电子倍增CCD相机，具有较大的视场FOV和光子计数灵敏度,广泛用于太空和天文观测,生命科学,物理学等应用。这款大视场EMCCD相机具有高端电子倍增EMCCD相机的性能：几乎没有噪音并具有单光子计数级别的灵敏度,具有较快的成像速度和卓越的图像质量,适合低通量成像和微光成像。
液氮制冷EMCCD相机 FPNUV-EM-N2
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这个液氮制冷EMCCD相机是采用液氮制冷技术的EMCCD增强相机,制冷温度可达-110℃,具有极低噪音和极高SNR信噪比,特别适合光子计数成像和弱光成像应用。液氮制冷EMCCD相机具有极低的暗电流,极大降低了时钟诱发电荷CIC,为曝光时间长的应用提供极高的灵敏度。
4K高分辨率EMCCD相机 FPNUV-4K-EMCCD
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这个4K高分辨率EMCCD相机是4K高清EMCCD相机成像解决方案,具有1600万像素,采用Teledyne-e2v公司CCD282的新型EMCCD探测器，提供与CMOS和CCD相机可媲美的大幅面成像技术。
自动四探针电阻率mapping测试系统 FPMIC-A4P
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自动四探针电阻率mapping测试系统是为晶圆电阻率绘图mapping设计的工业级自动四点探针电阻率测试系统。采用成熟的行业标准，提供快速、准确和可靠的晶圆样品电阻率分布测量。
磁场低温探针台 FPMIC-SCM-CF
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磁场低温探针台采用MicroXact低温磁探针台技术,满足电磁铁、超导磁体或电磁铁和超导磁体的组合测试应用。这种磁场低温探针台可用于低温自旋电子学测试、自旋转矩振荡器测试、霍尔效应测试、量子霍尔效应测试等。
无氦低温探针台 FPMIC-CPS-CF
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无氦低温探针台CPS-CF是为极低温探针测试设计的闭循环低温探针台系统,适合低温下对器件和电路进行探针测试。
半自动真空探针台 FPMIC-SPS-2600
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这款半自动真空探针台SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探针系统，设计用于支持在真空或受控气体环境中对多达100mm或200mm的晶片进行电动或半自动探测。
磁探针台 FPMIC-MPS-350
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这款磁探针台可提供三维磁场控制,满足磁性控制RF探针测试应用.作为磁场探针台实现了平面磁场的任意操控,方便自旋电子器件探针测试.
高温探针台 FPMIC-CPS-HT
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这款高温探针台是为高温环境器件测试或真空环境或气体环境器件探针台分析测试而设计。手动高温探针台可测试50mm x 50mm的晶圆样品，电控或半自动高温探针台可测试100mm或*大尺寸晶圆样品。高温探针台在真空环境下可测量温度环境高达700摄氏度,在非真空环境下可测650摄氏度。
闭循环低温真空探针台 FPMIC-CPS-XXX-CF-PLUS
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这款闭循环低温真空探针台是半自动低温真空探针台,可在低温单CCR系统9K，双CCR系统4.5K和三CCR系统低于4K温度下测试经验和器件。闭循环低温真空探针台非常适合量子计算,超导电子等高科技应用。