中波红外成像机芯Tachyon1024采用NIT红外相机的PbSe焦平面阵列,提供2000Hz和10000Hz的采样频率,非常适合集成到中波红外MWIR成像系列中使用.

长波红外成像机芯是非制冷红外红外成像模块,具有极高成像采样速度,功耗低,红外热图像质量*的特点,非常适合8-12微米红外热成像应用.640 x 480像素,384 x 288像素,160 x 120像素

长波红外相机ATOM640是结构紧凑的LWIR相机,具有640x480像素分辨率,光谱范围8-14微米,灵敏度高,红外成像*,功耗低,尺寸小,非常适合集成到手持式红外成像系统,机载红外成像系统和车载红外成像系统中使用.

LWIR长波红外相机ATOM1024是一款非制冷长波红外相机,提供8-14微米光谱范围,具有XGA分辨率1024 x768像素分辨率,热灵敏度高,机构紧凑,功耗低,适合作为OEM器件集成到热成像系统中使用。

这款非制冷型近红外中波红外相机是一款具有中波红外高速成像功能的的高速中波红外相机,具有1-5微米感光范围,帧频高达1000Hz,并具有InGaAs相机无法匹敌的精度，使得高速热成像测量无比简单而精确。该中波红外相机可以根据不同的应用而配备不同的附件。

这款手持式红外热像仪IR-CAM是在第三代热成像相机的基础上采用一流的红外技术制造而成的红外热成像仪，是具有高灵敏度,采用人体工程学设计的手持式红外热像仪,非常适合各种红外成像应用。

这款红外高速相机是中红外波段(1.2-4.8微米)的高速红外相机和高速线扫描相机,非常适合快速运动物体的快速瞬时热成像测量,它可以在1.2-4.8微米的波段范围内实现双带波长线扫描.它能够测量物体表面温度而不需要用户提供发射系数等数值. 而双波长测量的功能也使得这款高速红外相机应用到表面探测,水分测量等领域.

电弧超快成像系统采用电弧成像超快相机和电弧成像高速相机对于电路中开关器件的电弧放电进行超快成像,捕捉电弧运动和电弧行为,非常适合电弧放电成像研究

纳秒时间选通成像系统采用了纳秒时间选通成像相机,Time-Gated CCD Imager, 具有两个独立的0-255ns可调的延迟控制通道，纳秒时间选通成像系统没有采用门控增强器而是直接把时间选通信号加到CCD相机上,这种技术大大提高时间分辨率,降低成像噪音,提高光谱灵敏度,提供了荧光磷光探针成像效果.纳秒时间选通成像系统具有纳秒延迟输出打开功能，非常适合纳秒寿命成像，泵浦探针成像实验和散射成像或时间飞行成像等应用。

荧光磷光探针时间选通成像系统采用了时间选通CCD成像相机,Time-Gated CCD Imaging,用于荧光探针成像和磷光探针成像.荧光磷光探针时间选通成像系统没有采用门控增强器而是直接把时间选通信号加到CCD相机上,这种技术大大提高时间分辨率,降低成像噪音,提高光谱灵敏度,提供了荧光磷光探针成像效果.荧光磷光探针时间选通成像系统非常适合荧光探针寿命,荧光基团寿命,fluorophores大于100ns的应用,广泛用于长寿命探针,例如Lanthanide complexes, Oxygen and Temperature sensitive sensors, inorganic phosphors等. 它有效消除短探针寿命背景,提高长寿命荧光探针灵敏度.

这款晶圆自动四探针电阻率计是四点探针型的半导体晶圆和电阻薄膜的电阻率特性测量仪器，它采用微处理器电路直接计算出V/I数值，表面电阻率,薄片电阻率,晶片电阻率,金属化厚度,PN结类型测试。

这款聚合物薄膜测厚仪用于测量polymer films(聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜）在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，我们特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg), ，热分解温度thermal degradation temperature (Td) ，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。

这款便携式薄膜测厚仪是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,用于透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度测量,薄膜吸收率测量,薄膜透过率测量,薄膜反射率测量,薄膜荧光测量等，这款手持式薄膜测厚仪也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量,测量薄膜折射率n和k，薄膜厚度测量范围为350-1000nm.

这款薄膜溶解测厚仪用于实时监测薄膜在液体中薄膜厚度变化和光学常量（n, k)变化，是全球**的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，我们特意为薄膜溶解测厚仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。

镜片透光率测试仪是一款眼镜镜片透光率测量仪器,广泛用于薄膜透光率测试,比如LED扩散板透光率测试,镜头透光率测试,玻璃透过率测试,隔热纸材料透过率测试。

这款光学薄膜测厚仪采用光谱反射计技术测量薄膜反射光谱进测量薄膜厚度和测量薄膜折射率等参数，非常适合日常已知膜系膜堆测量。

这款薄膜厚度绘图仪采用光谱反射仪技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数，对整个面积上的薄膜厚度绘图获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。

这款薄膜厚度均匀性测量仪采用光谱反射计技术测量整个样品薄膜面积的薄膜厚度和薄膜折射率等参数，获得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均匀性参数。

这款宽带光学薄膜测厚仪是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率,测量薄膜荧光等，这款宽带光学薄膜厚度测量仪也可测量膜层厚度,测量薄膜光学常量折射率n和k)。测量薄膜厚度范围:2nm -150um,波长范围250-1700nm

这款显微薄膜测量仪是一款多功能薄膜测厚仪和显微分光光度计，可以结合显微镜测量薄膜吸收率,测量薄膜透过率,测量薄膜反射率以及测量薄膜荧光。这款显微薄膜测试仪通过测量薄膜反射率快速测量薄膜厚度,测量薄膜光学常量(n &k)以及薄膜thick film stacks。