穆勒矩阵偏振测量仪

这款穆勒矩阵偏振测量仪Mueller Polarimeter采用斯托克斯偏振分析测试仪和Spectroscopic Polarimeter,可测量400nm~800nm范围每个波长的偏振态。该穆勒矩阵偏振测量仪还具有双折射偏振测试、斯托克斯偏振测试和映射mapping测量等功能，可测量线二色性（线偏振光吸收），圆二色性（圆偏振光的吸收），线性双折射,相移（线性⇔圆偏振）,旋光,线偏振的旋转,去偏振降低DOP。

型号：

FPTOK-Mueller

品牌：

价格：

￥0.00

类别：

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商品详情

这款穆勒矩阵偏振测量仪Mueller Polarimeter采用斯托克斯偏振分析测试仪和Spectroscopic Polarimeter,可测量400nm~800nm范围每个波长的偏振态。该穆勒矩阵偏振测量仪还具有双折射偏振测试、斯托克斯偏振测试和映射mapping测量等功能，非常适合液晶显示器、投影仪、偏振光学元件、偏振光学、晶体、生物样品、荧光偏振等偏振态测量分析。
穆勒矩阵偏振测量仪Mueller Polarimeter特点
•无需校准,仪器在整个波长范围内进行了校准。
•波长分辨率高达2nm,采用分光计代替带通滤波片。
•可测量发散角和散射光,不仅可以测量准直光,还可以测量各种物质发光和反射光。
•用户友*软件，控制软件非常易用,便于用户控制和查找结果,测量结果存储在csv文件中。
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各种偏振能力测量
•双折射测量：在0～10万nm量级范围内，可同时测量快轴方向和延迟量。
•穆勒矩阵测量：可以进行*高水平的偏振分析。
•Mapping绘图能力:自动XY工作台可选配,方便样品偏振特性的分布。
客户订制化系统
我们可以对标准斯托克斯偏振测量仪按照客户要求进行定制,比如紫外-近红外（UV-NIR）偏振态测量仪、用于测量微弱光的高灵敏度斯托克斯偏振测量仪系统、连接到显微镜上的斯托克斯偏振测量仪系统等等。
偏振样品的高级分析
利用外加的偏振态发生器（PSG）和软件可以测量样品的偏振特性。穆勒矩阵偏振测量仪Mueller Polarimeter的PSG和测量头单元可自由布置。它为需要构建适合多种应用的测量系统的用户提供了方便。从测量的几个stokes参数可以计算出如下偏振特性。
线二色性——线偏振光吸收
圆二色性——圆偏振光的吸收
线性双折射——相移（线性⇔圆偏振）
旋光——线偏振的旋转
去极化——降低DOP的能力
穆勒矩阵偏振测量仪Mueller Polarimeter规格
测量参数              斯托克斯参数（S0，S1，S2，S3），椭圆度，偏振方向，偏振度（DOP，DOLP，DOCP），偏振消光比
数据绘图            图形（波长v.s.参数），图形（数据点v.s.参数数量），庞加莱球，Ellips视图，警报（低光，饱和时）
特色功能单次扫描，连续扫描，确认扫描，自动曝光
斯托克斯偏振计
波长范围                         400～800nm
波长分辨率                     <2nm
波长数 1500
***小测量时间                    6秒
高精度模式测量时间   >20秒
精度    <2%
重复精度 0.01@3σ（斯托克斯参数）
方向精度   ±0.2度（基准面为底面）
测量原理波片旋转、波片和分析仪旋转
双折射偏振计
原理                       双斯托克斯数据分析
波长                      与斯托克斯偏振计相同
测量时间                   斯托克斯测量值的2倍
迟滞范围                  0～λ/2纳米，使用拟合方法，***大值为100000nm
快速轴范围                          ±90度
重复性                             1度（延迟）
穆勒矩阵偏振计
原理                       四斯托克斯数据分析
波长                       与斯托克斯偏振计相同
测量时间                    斯托克斯测量值的4倍
重复性                      ±0.01（16个矩阵元素）
数据分析线性二向衰减,圆形二向衰减，线性双折射，圆双折射，去偏振

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